IM7587的測量頻率是1MHｚ～3GHz。在改變頻率的同時進行測量的分析儀的模式下寬頻帶的話則可以進行偏差較小的穩定的阻抗評估，因此能夠從電子元件的開發到生産線上等各種領域內使用。

最短0.5ms（0.0005秒）的高速測量。因此，對于希望能夠快速檢查大量電子元件的生産廠家來說，大幅提高了生産效率。

和去年發售的IM7580系列同樣小巧、輕便。電子元件生産廠家的生産線中，可以實現爲了提高空間效率的檢查系統的小型化，以及通過同時安裝多台來縮短檢查時間，從而降低生産成本。而且，這類測量儀器非常的輕巧方便攜帶，能夠在研發、品保、生産線等多種場合同時使用，放在桌上也不會占太多空間。

單一頻率測量的LCR測試儀模式下，有判斷電子元件合格與否的比較器功能、挑選電子元件的BIN功能。比較器功能是設置上下限值，並以其爲判斷標准進行合格與否的判斷。相對于以1個判斷標准判斷合格與否的比較器功能，BIN功能最多可以設置10種判斷標准，並進行排名。
 多種頻率測量的分析模式下，有從電子元件的頻率特性中能判斷合格與否的區域判定、峰值判定。區域判定是確認測量值是否進入任意設置的判定區域內的功能。峰值判定是判定共振點的功能。
 另外，還具有任意設置多種頻率，並以此設定值爲基礎判斷合格與否的點判斷功能。

我司今年7月發售了研發、品保部門中必須的SMD用治具（IM9201）。IM9201是適用于高頻電子元件的測量治具，最高可測3GHz。和IM7587組合使用，能夠在這類電子元件測量中發揮威力。