可能是以下原因。
1.溫度的影響
微電阻計RM3544通過使用4端子測量方法流動恒定電流來測量。熱量可能隨著時間的推移而變化，並且電阻可能根據周圍環境（例如室溫和空調等）而改變。
2.接觸狀態的影響
连接测量探头（测试线）时，压力可能会发生变化。 例如，当对被测物的接触压力上升（适应）时，电阻值可能会减小。
3.氧化膜的影響
根據被測物，通過測量電流去除表面的氧化膜，並且電阻值可能會變低。

4.測試線的影響

夾型、4端子型、針型、自制測試線等，因爲所用的測試線不同也可能會受到接觸電阻的影響。

5.被測物的材質、特性等其他影響

【相關産品】RM3544、RM3545、MR3548等電阻計